测距装置、以及检测测距装置的窗口的污垢的方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种测距装置(20)，具备：发光部(40)、受光部(60)、运算部(200)、具有窗口(92)的壳体(90)以及当预先规定的污垢判定条件成立时判定为在窗口存在污垢的判定部(300)。污垢判定条件包含第一条件，该第一条件为“关于测距装置的视野范围内的至少一个像素，相当于从发光部到窗口的光路的距离的特定飞行时间下的受光强度为强度阈值以上”。
基本信息
专利标题 ：
测距装置、以及检测测距装置的窗口的污垢的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114502984A
申请号 ：
CN202080069439.3
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2020-09-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
尾崎宪幸秦武广植野晶文
申请人 ：
株式会社电装
申请人地址 ：
日本爱知县
代理机构 ：
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 ：
邰琳琳
优先权 ：
CN202080069439.3
主分类号 ：
G01S17/10
IPC分类号 ：
G01S17/10 G01S17/931 G01S7/497
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统，例如，激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
G01S17/06
测定目标位置数据的系统
G01S17/08
只用于测量距离
G01S17/10
应用断续的脉冲调制波的发射
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 17/10
申请日 : 20200930
申请日 : 20200930
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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