测距装置及控制方法
公开
摘要
测距装置具备发光装置、受光装置、以及控制上述发光装置及上述受光装置并对从上述受光装置输出的信号进行处理的处理电路。上述处理电路使上述发光装置射出照射场景内的第1范围的第1光；使上述受光装置检测通过上述第1光的照射而产生的第1反射光并输出第1检测数据；基于上述第1检测数据，决定比上述第1范围窄的1个以上的第2范围；使上述发光装置射出照射上述第2范围的第2光；使上述受光装置检测通过上述第2光的照射而产生的第2反射光并输出第2检测数据；基于上述第2检测数据，生成上述第2范围的距离数据并输出。
基本信息
专利标题 ：
测距装置及控制方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114341672A
申请号 ：
CN202080062997.7
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2020-07-07
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
稻田安寿清原督三加藤弓子
申请人 ：
松下知识产权经营株式会社
申请人地址 ：
日本大阪府
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
安香子
优先权 ：
CN202080062997.7
主分类号 ：
G01S17/10
IPC分类号 ：
G01S17/10 G01S17/894
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统，例如，激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
G01S17/06
测定目标位置数据的系统
G01S17/08
只用于测量距离
G01S17/10
应用断续的脉冲调制波的发射
法律状态
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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