光检测装置、光检测方法以及光学式测距传感器

授权

摘要

光检测装置(1)根据检测开始定时检测入射的光。光检测装置具有多个受光元件(10a～10c)、信号合成电路(13)、检测电路(3)和至少一个时间测量电路(4)。多个受光元件接受光，并分别生成表示受光结果的输出信号(Sa～Sc)。信号合成电路对来自各受光元件的多个输出信号进行合计，生成合成信号(S1)。检测电路检测合成信号在检测开始定时后达到最大的定时，生成表示检测到的定时的检测信号(S2)。时间测量电路根据检测信号，测量检测开始定时与检测到的定时之间的测定期间(T3)。

基本信息

专利标题：

光检测装置、光检测方法以及光学式测距传感器

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111868473A

申请号：

CN201980017351.4

公开（公告）日：

2020-10-30

申请日：

2019-03-08

授权号：

CN111868473B

授权日：

2022-04-22

发明人：

堀野昌伸松井优贵中室健仲田佐幸

申请人：

欧姆龙株式会社

申请人地址：

日本国京都府京都市

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司

代理人：

邓毅

优先权：

CN201980017351.4

主分类号：

G01C3/06

IPC分类号：

G01C3/06 G01S7/487 G01S17/10 H01L31/10