一种膜片厚度的光测试方法及系统
授权
摘要
本申请公开了一种膜片厚度的光测试方法及系统，属于扬声器技术领域，光测试方法包括：获取膜片中心球顶部的顶点位置信息；获取光发射装置的光位置信息；根据顶点位置信息和光位置信息计算得到偏移量；获取光接收装置的检测信号，并根据检测信号得到膜片的初步厚度；根据偏移量和初步厚度计算得到膜片的最终厚度，本申请具有提高膜片厚度检测的精准度的效果。
基本信息
专利标题 ：
一种膜片厚度的光测试方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113804116A
申请号 ：
CN202111065457.7
公开（公告）日 ：
2021-12-17
申请日 ：
2021-09-10
授权号 ：
CN113804116B
授权日 ：
2022-06-10
发明人 ：
周元东韩韶峰周高莹
申请人 ：
湖南捷力泰科技有限公司
申请人地址 ：
湖南省永州市冷水滩区高科技工业园九嶷大道永州智能装备产业园内4#、5#栋
代理机构 ：
北京维正专利代理有限公司
代理人 ：
朱鹏程
优先权 ：
CN202111065457.7
主分类号 ：
G01B11/06
IPC分类号 ：
G01B11/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2022-06-10 ：
授权
2022-01-04 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/06
申请日 : 20210910
申请日 : 20210910
2021-12-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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