一种X荧光对埋弧渣钙、硅、镁、铁测定的方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种X荧光对埋弧渣钙、硅、镁、铁测定的方法，包括S1：材料准备阶段：S11：埋弧渣试样的制备：S111：按GB/T10322.1标准对埋弧渣进行取样、制样操作，接着将振动筛的电源与外界电源相连接，接着将挑选出来的埋弧渣倒入振动筛中进行筛分，其中振动筛的网眼为120目；S112：将干燥器的电源与外界电源相连接。该X荧光对埋弧渣钙、硅、镁、铁测定的方法，此方法通过将埋弧渣样品置于铂黄金坩埚中进行熔融，样品在高温下能与高纯熔剂反应，融成玻璃片状的样品，经X荧光仪测定其强度，经制好的工作曲线计算出样品的百分含量，使得此技术无需分别检测各个化学成分，多种化学成分可同时测定，进而极大的节省检测时间，有效的提高了检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种X荧光对埋弧渣钙、硅、镁、铁测定的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114486967A
申请号 ：
CN202111089688.1
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2021-09-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
伍绍双许家宝柳锐松覃双环
申请人 ：
阳春新钢铁有限责任公司
申请人地址 ：
广东省阳江市阳春市潭水镇南山工业区
代理机构 ：
广州京诺知识产权代理有限公司
代理人 ：
唐玲玲
优先权 ：
CN202111089688.1
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/223
申请日 : 20210917
申请日 : 20210917
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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