一种光栅传感器质量检测系统
实质审查的生效
摘要

本发明涉及光栅传感器检测技术领域,尤其涉及一种光栅传感器质量检测系统。检测系统包括检测仪,该检测仪包括:中央处理模块,用于对检测仪检测到的数据进行分析处理;信息交互模块,与中央处理模块电连接,用于与外部终端进行信息交互;第一检测模块,与中央处理模块电连接,用于检测光栅传感器发射端的电压和电流的状态;第二检测模块,与中央处理模块电连接,用于检测光栅传感器接收端的电压和电流的状态,通过两个检测模块对光栅传感器的接收端和发射端进行检测,进一步的将检测数据传送到中央处理模块上进行处理,再一步的经过信息交互模块进行信息交互,进而实现了对光栅传感器的检测,有效的保证了生产成品的质量和合格率。

基本信息
专利标题 :
一种光栅传感器质量检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114543862A
申请号 :
CN202111256525.8
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2021-10-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
纪海平李林魏
申请人 :
深圳市施特安邦科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区松岗街道潭头社区亚洲电力工业园1栋301
代理机构 :
深圳市新虹光知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘菊美
优先权 :
CN202111256525.8
主分类号 :
G01D18/00
IPC分类号 :
G01D18/00  G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01D
非专用于特定变量的测量;不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置;计费设备;非专用于特定变量的传输或转换装置;未列入其他类目的测量或测试
G01D18/00
测试或校准大组G01D1/00-G01D15/00中列入的设备或装置
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01D 18/00
申请日 : 20211027
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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