用于磁阻传感器的芯片上轮间距识别的方法
实质审查的生效
摘要
本公开涉及用于磁阻传感器的芯片上轮间距识别的方法。例如,一种传感器设备,包括:第一传感器布置,被配置为基于感测由具有极轮间距的极轮生成的变化磁场来生成第一传感器信号,其中第一传感器信号表示限定第一测量值的第一差分信号;第二传感器布置,被配置为基于感测变化磁场来生成至少一个第二传感器信号,其中至少一个第二传感器信号限定相对于第一测量值相移的第二测量值;以及信号处理器,被配置为基于第一测量值和第二测量值检测极轮间距,并基于所检测的极轮间距调整放大器电路的增益设置,其中放大器电路被配置为放大至少一个第二传感器信号。
基本信息
专利标题 :
用于磁阻传感器的芯片上轮间距识别的方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114440756A
申请号 :
CN202111286652.2
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2021-11-02
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
C·施罗尔斯A·彼得里M·齐利
申请人 :
英飞凌科技股份有限公司
申请人地址 :
德国诺伊比贝尔格
代理机构 :
北京市金杜律师事务所
代理人 :
张昊
优先权 :
CN202111286652.2
主分类号 :
G01B7/14
IPC分类号 :
G01B7/14
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/14
用于计量相隔的物体或孔的间距或间隙
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 7/14
申请日 : 20211102
申请日 : 20211102
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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