用于处理低温带电粒子样本的系统和方法。本发明涉及一种低温带电粒子（CCP）样本处理和储存系统。所述系统用于储存和处理用于在带电粒子显微法中使用的低温样本，例如用于在低温透射式电子显微法中使用的低温电子显微镜样本。所述系统包括用于储存多个CCP样本的储存设备，以及处于远离所述储存设备的位置处的带电粒子设备（CPA），例如低温TEM。系统进一步包括转移装置，其可以可释放地连接到所述储存设备，且也可以可释放地连接到所述CPA。如本文所限定，所述转移装置被布置成用于当连接到所述储存设备时从所述多个CCP样本获取CCP样本，且被布置成用于当连接到所述CPA时将所述CCP样本从所述转移装置转移到所述CPA。