基于压缩感知的高分辨率光子集成成像系统及成像方法
实质审查的生效
摘要
本发明提出了一种基于压缩感知的高分辨率光子集成成像系统及成像方法，主要解决现有高分辨率紧凑被动相干成像技术存在透镜组成基线的效率低以及光子集成电路复杂、光路数量巨大的问题。该成像系统包括依次设置的透镜阵列、光子集成电路和数据处理模块；透镜阵列包括呈平面排布的第一透镜组和第二透镜组；第一透镜组包括M个沿X方向线性排列的透镜；第二透镜组包括N+1个沿Y方向线性排列的透镜。第一透镜组与第二透镜组呈T形排列，使得成基线的效率大大提高。
基本信息
专利标题 ：
基于压缩感知的高分辨率光子集成成像系统及成像方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114486746A
申请号 ：
CN202111414001.7
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2021-11-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘罡宋宗玺孙忠涵汶德胜
申请人 ：
中国科学院西安光学精密机械研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
代理机构 ：
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 ：
郑丽红
优先权 ：
CN202111414001.7
主分类号 ：
G01N21/17
IPC分类号 ：
G01N21/17
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/17
申请日 : 20211125
申请日 : 20211125
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
