一种基于全光谱法的透明导电膜电学特征的表征方法
实质审查的生效
摘要
本申请公开了一种基于全光谱法的透明导电膜电学特征的表征方法。通过构建多振子模型构建导电膜的色散模型，利用薄膜光学常数反演计算的方法分析导电膜的电学特征和宽谱段的精确光学常数表征，该方法适应于ITO、AZO、红外透明导电膜、超薄金属膜(膜层厚度小于100nm)等透明导电膜的电学特征和宽谱段精确光学常数的表征，精简透明导电膜光电特性的测试步骤，提高工作效率，为电磁屏蔽，智能光窗薄膜的设计提供保障。
基本信息
专利标题 ：
一种基于全光谱法的透明导电膜电学特征的表征方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114324249A
申请号 ：
CN202111438840.2
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-11-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘华松何家欢姜玉刚刘丹丹陈丹徐颖梁楠
申请人 ：
天津津航技术物理研究所
申请人地址 ：
天津市东丽区空港经济区中环西路58号
代理机构 ：
天津市鼎拓知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘雪娜
优先权 ：
CN202111438840.2
主分类号 ：
G01N21/552
IPC分类号 ：
G01N21/552 G01N21/59 G01N21/33 G01N21/3563
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/55
镜面反射率
G01N21/552
衰减全反射
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/552
申请日 : 20211129
申请日 : 20211129
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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