本发明属于半导体缺陷检测与图像处理技术领域，具体涉及一种基于全景分割的半导体自动分区方法，本方法基于全景分割网络，首先收集若干产品的模板数据作为全景分割网络的训练数据，模板数据包含模板图片和mask图片；将mask图片中材质定义为stuff，在模板图片上任意位置生成随机大小的颜色块，并将颜色块映射到mask图片上定义为things；其次采用训练数据训练全景分割网络，得到可以进行半导体自动分区建模的全景分割网络。将带分区图片输入该全景分割网络即可得到分区模板，该方法可以解决传统分区方案中调参繁琐、结构适应性弱、分区耗时等问题。