TDOA系统定位精度测量方法、装置、电子设备与存储介质
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种TDOA系统定位精度测量方法、装置、电子设备和存储介质。所述的方法，包括：利用TDOA系统对处于测试位置的信号源进行n次定位，得到n个实测定位位置；根据所述n个实测定位位置，以及所述测试位置的实际地理位置，确定误差信息；根据所述n个实测定位位置和每次定位时所获取到的m组时差信息，确定校正信息；利用所述校正信息对所述误差信息进行校正；基于所述TDOA系统对多个所述测试位置的定位精度，确定所述TDOA系统的系统定位精度。
基本信息
专利标题 ：
TDOA系统定位精度测量方法、装置、电子设备与存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114371444A
申请号 ：
CN202111511995.4
公开（公告）日 ：
2022-04-19
申请日 ：
2021-12-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
任澳东姜化京黄超
申请人 ：
特金智能科技（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市闵行区联航路1188号36幢2层A1单元
代理机构 ：
上海慧晗知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
徐海晟
优先权 ：
CN202111511995.4
主分类号 ：
G01S5/02
IPC分类号 ：
G01S5/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S5/00
通过确定两个或更多个方向或位置线的配合来定位；通过确定两个或更多个距离的配合进行定位
G01S5/02
利用无线电波
法律状态
2022-05-06 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01S 5/02
申请日 : 20211206
申请日 : 20211206
2022-04-19 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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