平行面检测系统和方法
实质审查的生效
摘要
本发明实施例提供平行面检测系统和方法，所述系统包括：第一平面，设置有第一检测区和第一反射镜，第二平面，设置有第二检测区和第二反射镜，面激光器，设置于第一平面和第二平面之间，分别向第一平面和第二平面发出第一激光和第二激光，第一激光和第二激光在一条直线上，当第一激光在第一检测区的位置与第二反射镜反射的光束在第一平面的位置重合，且第二激光在第二检测区的位置与第一反射镜反射的光束在第二平面的位置重合时，判定第一平面与第二平面平行且中心对准。本发明提高了平行面检测的结果准确度和一致性。
基本信息
专利标题 ：
平行面检测系统和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114264254A
申请号 ：
CN202111546615.0
公开（公告）日 ：
2022-04-01
申请日 ：
2021-12-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
焦敬恩李萌王东峰
申请人 ：
嘉兴聚速电子技术有限公司;北京川速微波科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省嘉兴市平湖市经济技术开发区智创园Z101厂房
代理机构 ：
北京科家知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
邵玉龙
优先权 ：
CN202111546615.0
主分类号 ：
G01B11/26
IPC分类号 ：
G01B11/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/26
•用于计量角度或锥度；用于检测轴线准直
法律状态
2022-04-19 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/26
申请日 : 20211216
申请日 : 20211216
2022-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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