一种密码设备测试方法、装置、电子设备及存储介质
实质审查的生效
摘要

本公开提供了一种密码设备测试方法、装置、电子设备及存储介质,涉及测试技术领域,包括:获取密码设备能力描述信息;根据所述密码设备能力描述信息,确定所述密码设备对应的测试脚本,并利用所述测试脚本对所述密码设备进行测试。本公开提供的一种密码设备测试方法,根据所述获取密码设备能描述信息,确定所述密码设备对应的测试脚本,并对所述密码设备进行测试,在不同操作系统可以使用不同的工具,即可以使用不同编程语言来执行测试,从而提高多平台测试易用性,在商用前经过大量接口测试来保证产品的完善性、安全性,极大提高测试效率。

基本信息
专利标题 :
一种密码设备测试方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114490202A
申请号 :
CN202111575682.5
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2021-12-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
宋咏超孙马秋姜林剑
申请人 :
北京密码云芯科技有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区上地信息路2号(北京实创高科技发展总公司2-2号D栋1-8层)六层607A室
代理机构 :
北京睿阳联合知识产权代理有限公司
代理人 :
杨生平
优先权 :
CN202111575682.5
主分类号 :
G06F11/22
IPC分类号 :
G06F11/22  G06F11/273  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20211221
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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