本发明公开了一种电子器件检测方法、装置及电子设备，其中的方法包括如下步骤：获取待检测器件的基准测试数据；控制检测治具移动至待检测器件上；控制检测治具连接至第二待测点以及每个第一待测点组中的第一部分的待测点，并获取第一检测数据；第一部分的待测点中包括与第二待测点直接连接的待测点；从基准测试数据中提取与第一检测数据对应的第一基准数据，并判断第一检测数据和第一基准数据之间的差值是否超出预设误差范围；当第一检测数据和第一基准数据之间的差值超出预设误差范围时，输出待检测器件不合格的检测结果。本发明中的方法，实现了对待检测器件上第一待测点的有效分批检测，实现了对高密度、高点数的电子器件的电性能的有效检测。