一种在EDA仿真中自适应生成ATE测试码的方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开一种在EDA仿真中自适应生成ATE测试码的方法，属于数字集成电路EDA仿真领域。对被测电路进行ATE测试；根据所述被测电路的管脚，编写管脚信息文件；根据所述管脚信息文件，利用自动生成脚本生成测试码抓取模块和例化模块；将所述例化模块集成进EDA仿真平台中；选择所述EDA仿真平台中对应的功能进行仿真，同时输出ATE测试码，从而能够在EDA仿真中，根据仿真功能直接生成测试码，无需额外的工作量。
基本信息
专利标题 ：
一种在EDA仿真中自适应生成ATE测试码的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114460436A
申请号 ：
CN202111583691.9
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2021-12-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
邵健桂江华胡鹏张磊姜若旭
申请人 ：
中国电子科技集团公司第五十八研究所
申请人地址 ：
江苏省无锡市滨湖区惠河路5号
代理机构 ：
无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨强
优先权 ：
CN202111583691.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R31/317 G01R31/3183 G06F30/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20211222
申请日 : 20211222
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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