本发明涉及光栅测量领域，具体而言，涉及一种读数头检修方法、框架标定工装及读数头标定工装。读数头检修方法包括：获取各个读数头的第一参数，根据第一参数，判断读数头是否损坏；若判断结果为否，则获取读数头的第二参数，若第二参数不满足要求，则判断为读数头异常，对读数头进行调试，直到第二参数达到预定值以上；若判断结果为是，则更换读数头并将更换后的读数头的第二参数调试到预定值以上。框架标定工装及读数头标定工装用于实施上述读数头检修方法。本发明提供的读数头检修方法、框架标定工装及读数头标定工装，可在现场快速确定读数头发生故障的原因，无需返厂检测，从而，可缩短维护维修周期，成本较低。