一种高精度同步扫描光学系统装调精度评估方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及一种高精度同步扫描光学系统装调精度评估方法,属于光学系统高精度装调领域。通过同步扫描镜的旋转,使得激光光源投射在屏上不同的位置,记录扫描镜处于不同角度位置时的探测器上像点的像面坐标;同时根据小孔成像原理将物方光点投影至探测器,得到像方光点的横向坐标,再通过直线拟合,得到直线斜率,进而可得到该斜率的反正切角度,该角度即为反映同步扫描光学系统装调状态的量。本发明有效解决了同步扫描光学系统装调状态评估步骤复杂、效率低下的问题,具有操作简单、易于实施的特点。

基本信息
专利标题 :
一种高精度同步扫描光学系统装调精度评估方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114383817A
申请号 :
CN202111598695.4
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2021-12-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
吴云华宝成尹芳贺盈波祝浩朱飞虎郑岩苏畅郭绍刚王立何英姿
申请人 :
北京控制工程研究所
申请人地址 :
北京市海淀区北京2729信箱
代理机构 :
中国航天科技专利中心
代理人 :
任林冲
优先权 :
CN202111598695.4
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02  G02B26/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20211224
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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