本发明公开一种无需中断超导带生长的取样测试方法，包括以下步骤：准备好超导基底带，其中带材的前段焊接有预设长度的参考短样；将带材放入放卷室，抽真空并加热至工艺温度后，开启走带，对参考短样进行沉积并将其收于收卷室中；暂停走带，使收卷室与沉积主腔体隔离；取出沉积后的参考短样，对其进行测试，通过检测结果评估是否进行后续正式生产；若测试结果正常，收卷室与沉积主腔体连通，待系统工艺气压恢复稳定后，恢复走带，进行带材的沉积。通过在正式带材的前段设置一参考短样，对参考短样先进行沉积，并测试正常后再进行正式带材的生产，正式生产过程无需中断超导带材的生长，可以降低产品报废导致的成本增加的问题，大大提高了产率。