热电阻温度传感器的温度校验方法、系统、计算机及介质
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种热电阻温度传感器的温度校验方法,包括:构建初始温度校准曲线模型;将可调电阻箱的电阻值分别调到待校准的热电阻温度传感器在第一预设温度和第二预设温度对应的阻值,并分别测量可调电阻箱两端的第一电压信号和第二电压信号;根据所述第一电压信号计算第一校准温度,根据第二电压信号计算第二校准温度;将所述第一校准温度输入所述温度校准曲线模型,计算出所述温度校准曲线模型的第一温度校正参数,进而获得第一温度校准曲线模型;将所述第二校准温度输入所述第一温度校准曲线模型,计算出所述温度校准曲线模型的第二温度校正参数。采用本发明,能够解决现有两线制测温方法存在的误差问题,提高温度测量的精度。

基本信息
专利标题 :
热电阻温度传感器的温度校验方法、系统、计算机及介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114518185A
申请号 :
CN202111621711.7
公开(公告)日 :
2022-05-20
申请日 :
2021-12-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
邓海平毛祖宾袁振宇
申请人 :
广东艾科技术股份有限公司
申请人地址 :
广东省佛山市南海区桂城街道深海路17号瀚天科技城A区3号楼三楼304单元
代理机构 :
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 :
曹万菊
优先权 :
CN202111621711.7
主分类号 :
G01K15/00
IPC分类号 :
G01K15/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01K
温度测量;热量测量;未列入其他类目的热敏元件
G01K15/00
温度计的测试或校准
法律状态
2022-06-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01K 15/00
申请日 : 20211228
2022-05-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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