一种微处理器瞬态剂量率辐照测试系统及其测试方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开一种微处理器瞬态剂量率辐照测试系统及其测试方法，试验主控制板对被测微处理器电路进行初始化测试程序、被测电路运行测试程序、示波器监测被测电路端口状态、主控制板串口读取被测电路辐照前后数值及状态并比较、辐照后被测电路运行算法及数据收发通信程序等；所述被测微处理器电路瞬态剂量率合格判定方法包括闩锁判定方法、翻转判定方法及端口电压判定方法。
基本信息
专利标题 ：
一种微处理器瞬态剂量率辐照测试系统及其测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114328053A
申请号 ：
CN202111640214.1
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
薛海卫雷志军
申请人 ：
中国电子科技集团公司第五十八研究所
申请人地址 ：
江苏省无锡市滨湖区惠河路5号
代理机构 ：
无锡派尔特知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨强
优先权 ：
CN202111640214.1
主分类号 ：
G06F11/22
IPC分类号 ：
G06F11/22 G06F11/26 G01T1/29
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20211229
申请日 : 20211229
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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