一种瞬态热阻测试电路
授权
摘要
本实用新型提供了一种瞬态热阻测试电路，包括：被测器件，以工作特性分为一个驱动端口和两个工作端口，所述驱动端口施加驱动电压时两个工作端口导通；所述测试电路包括：恒流负载，用于设定恒流值，其输入端与所述被测器件第一工作端口连接；功率电源，其正极连接所述被测器件的第二工作端口，其负极连接所述恒流负载的输出端；控制电源，其正极连接运算放大器同相输入端，负极连接所述恒流负载的输出端；所述运算放大器的输出端连接所述被测器件的驱动端，运算放大器的反相输入端连接被测器件的第一工作端口。本实用新型可解决现有瞬态热阻测试电路中电压电流功率放大器设计难度大、发热严重、效率较低、电路复杂等问题。
基本信息
专利标题 ：
一种瞬态热阻测试电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921093506.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-07-12
授权号 ：
CN210442473U
授权日 ：
2020-05-01
发明人 ：
周鹏孙衍翀
申请人 ：
北京华峰测控技术股份有限公司
申请人地址 ：
北京市丰台区海鹰路1号2号楼7层
代理机构 ：
北京华夏正合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
韩登营
优先权 ：
CN201921093506.6
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-05-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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