用于电化学发光检测的干扰处理方法及系统
公开
摘要
本公开实施例提供的用于电化学发光检测的干扰处理方法及系统，基于在电化学发光检测进程中获取到的具有环境干扰影响的环境干扰溯源信息，获得多个待进行干扰处理的干扰环境源信息，确定所述待进行干扰处理的干扰环境源信息对应的干扰倾向性特征信息；当所述干扰倾向性特征信息具有干扰特征支持度时，确定与所述多个待进行干扰处理的干扰环境源信息对应的可能的干扰属性字段，以基于所述可能的干扰属性字段以及所述待进行干扰处理的干扰环境源信息，调取相应的干扰处理策略对所述待进行干扰处理的干扰环境源信息进行抗干扰处理。如此，可对具有环境干扰影响的环境干扰溯源信息的干扰状态进行抗干扰处理，从而提高电化学发光检测的可靠性。
基本信息
专利标题 ：
用于电化学发光检测的干扰处理方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114384062A
申请号 ：
CN202111645095.9
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
焦天恕
申请人 ：
江苏集萃分子工程研究院有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市常熟高新技术开发区贤士路88号6-7幢202
代理机构 ：
常州市权航专利代理有限公司
代理人 ：
张佳文
优先权 ：
CN202111645095.9
主分类号 ：
G01N21/76
IPC分类号 ：
G01N21/76
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/75
材料在其中经受化学反应的系统，测试反应的进行或结果
G01N21/76
化学发光；生物发光
法律状态
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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