本发明公开了一种基于握手机制的单次触发逻辑测试的方法及应用，该方法包括以下步骤：在激励组件发送满足触发调试信息条件的激励时，将激励组件和参考模型的握手信号设置为第一值，并触发所述调试信息；在仿真过程中检测到所述调试信息与参考模型中记录的期望的调试信息一致时，将所述握手信号设置为第二值，其中，所述握手信号用于判断激励组件与参考模型之间单次触发逻辑是否已经比较完成；以及通知激励组件重新发送带有所述调试信息触发标记的激励。该方法能够实现数字芯片模块验证的回归测试中每个测试用例将单次触发逻辑进行多次重复触发，并且比对触发的信息记录是否正确，从而提高在相同测试用例的情况下单次触发逻辑的测试覆盖率。