本发明公开了一种基于对数螺线型弯晶的离散型固体样品元素分析方法，包括将激发光源发射处，放置在对数螺线的起点处，将衍射晶体放置在对数螺线上，衍射晶体的内表面形成的曲线与对数螺线一致，激发光源发出的激发光通过第一光阑入射到衍射晶体表面形成衍射光，衍射光经第二光阑入射到样品上形成特征光，特征光由探测器接收，经数字多道处理分析形成结果；本发明能够很好的确定光管、衍射面和像点的位置；对数螺线型可以根据需求人为的设计曲率，在工业上很好加工，对应面型的衍射晶体也比较好加工，由此成本变得更低，维护也更加便捷；同时在像面采用线离焦的方式，对样品进行大面积照射，减少元素不均匀性带来的检测误差。