一种缺陷识别的方法、装置、设备和介质
实质审查的生效
摘要
本申请提供了一种缺陷识别的方法、装置、设备和介质，所述方法包括：获取待测电气件的电气件图像；将预处理后的电气件图像分别输入至缺陷识别模型的全面且快速特征提取网络层、全面特征提取网络层和快速特征提取网络层，分别得到第一特征、第二特征和第三特征；将所述第一特征、所述第二特征和所述第三特征融合后的融合特征输入至所述缺陷识别模型的分类层，确定所述待测电气件的缺陷识别结果；根据所述缺陷识别结果，确定针对所述待测电气件的淘汰策略。
基本信息
专利标题 ：
一种缺陷识别的方法、装置、设备和介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114283142A
申请号 ：
CN202111650918.7
公开（公告）日 ：
2022-04-05
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张淑琬孙彬胡渊
申请人 ：
北京航天数据股份有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区丹棱街16号海兴大厦B座1层F1011号
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
彭星
优先权 ：
CN202111650918.7
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06V10/80 G06V10/30 G06V10/32 G06V10/774 G06V10/82 G06K9/62 G06N3/04 G06N3/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
