自动缺陷识别的系统和方法
公开
摘要
提供了一种图像检查计算设备(104)。该设备(104)包括存储器设备(310,410)和至少一个处理器(305,405)。至少一个处理器(305,405)被配置为接收第一部件(202)的至少一个样本图像(202)，其中第一部件的至少一个样本图像(202)不包括缺陷(258)，在存储器(310,410)中存储该至少一个样本图像(202)，并接收第二部件的输入图像(206,252)。至少一个处理器(305,405)还被配置为基于第二部件的输入图像(206,252)生成编码阵列，对编码阵列进行随机数据采样处理，生成解码阵列，并生成第二部件的重建图像(254)，该重建图像从随机数据采样处理和解码阵列导出。至少一个处理器(305,405)被进一步配置为产生残余图像(210,256)，并辨别第二部件的缺陷(258)。
基本信息
专利标题 ：
自动缺陷识别的系统和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114586064A
申请号 ：
CN202180005929.1
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2021-04-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
阿尔贝托·圣塔马利亚·庞尤瑟夫·阿尔·科法伊阿里特拉·乔杜里肖亚·萨卡迈克尔·约翰·麦克唐纳皮特·阿尔然·瓦塞纳帕特里克·约瑟夫·霍华德布鲁斯·考特尼·安姆埃里克·赛斯·莫德巴切
申请人 ：
通用电气公司
申请人地址 ：
美国纽约州
代理机构 ：
上海华诚知识产权代理有限公司
代理人 ：
陈海琴
优先权 ：
CN202180005929.1
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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