基于红外热成像技术的缺陷识别方法及装置
公开
摘要
本发明公开了一种基于红外热成像技术的缺陷识别方法及装置，该方法包括：对训练样品进行激励作用；采集被激励后的训练样品的至少一张训练用热成像图像，作为待训练的缺陷识别模型的训练集；根据训练集训练缺陷识别模型，得到目标缺陷识别模型；对目标物品进行激励作用，得到激励后的目标物品；采集激励后的目标物品对应的目标热成像图像集合，目标热成像图像集合包括激励后的目标物品对应的至少一张热成像图像；根据目标热成像图像集合与目标缺陷识别模型，识别目标物品对应的缺陷。可见，实施本发明能够利用热成像图像集合以及缺陷识别模型对物品的缺陷进行识别，降低基于红外热成像技术检测物品缺陷的误差，提高物品缺陷检测的准确性和可靠性。
基本信息
专利标题 ：
基于红外热成像技术的缺陷识别方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114581378A
申请号 ：
CN202210126303.2
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-02-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
曾智王华峰张雪洋姜盼杨莉莉王小雪
申请人 ：
南方医科大学顺德医院（佛山市顺德区第一人民医院）;重庆师范大学
申请人地址 ：
广东省佛山市顺德区伦教街道荔村甲子路1号
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
徐李娜
优先权 ：
CN202210126303.2
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06N20/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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