一种通用光电元器件分析方法
实质审查的生效
摘要
本发明的一种通用光电元器件分析方法，属于光电器材测量技术领域，测试光光器件时，先后测试无待测件和加入待测件的系统响应，通过计算可得到待测光光器件的幅相响应，本发明可测试光‑电转换、电‑光转换、光‑光变换等芯片、模块以及系统的幅度相位参数，可以广泛应用于光通信、激光雷达、量子通信、光传感以及微波光子等领域，具有高测试效率、大动态范围、高频率分辨率、应用广泛等优势。
基本信息
专利标题 ：
一种通用光电元器件分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114337839A
申请号 ：
CN202111658712.9
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
潘时龙刘世锋吴鲁刚傅剑斌薛敏李树鹏
申请人 ：
苏州六幺四信息科技有限责任公司;南京航空航天大学;苏州六幺六光电科技有限责任公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市常熟市高新技术产业开发区东南大道33号202
代理机构 ：
南京专信知识产权代理有限公司
代理人 ：
郝晓燕
优先权 ：
CN202111658712.9
主分类号 ：
H04B10/548
IPC分类号 ：
H04B10/548 G01R25/00
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 10/548
申请日 : 20211230
申请日 : 20211230
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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