用于表贴晶体元器件的X射线照相治具及设备
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种用于表贴晶体元器件的X射线照相治具及设备。该治具包括底座、可动定位板、弹性元件以及活动翻板。底座的上表面设置有凹槽,凹槽底部设置有侧面拍照置槽;可动定位板可滑动地设置于凹槽内;弹性元件固定设置于底座与可动定位板之间;活动翻板可翻转地设置于可动定位板与第一侧壁之间,以用于将表贴晶体元器件从正面翻转至侧面,活动翻板上设置有正面拍照置槽。采用该治具对表贴晶体元器件正面进行X射线照相后,可以很方便地把表贴晶体元器件从正面转换到侧面位置进行X射线照相,操作简单方便,无需对表贴晶体元器件进行夹持,进而不容易对表贴晶体元器件造成损伤,能够提高表贴晶体元器件的生产效率。

基本信息
专利标题 :
用于表贴晶体元器件的X射线照相治具及设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114384096A
申请号 :
CN202111659785.X
公开(公告)日 :
2022-04-22
申请日 :
2021-12-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
哈斯图亚郑文强段友峰崔巍范文杰
申请人 :
北京无线电计量测试研究所
申请人地址 :
北京市海淀区永定路50号12号楼
代理机构 :
中国航天科工集团公司专利中心
代理人 :
葛鹏
优先权 :
CN202111659785.X
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-05-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/04
申请日 : 20211230
2022-04-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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