工件表面的红外检测方法、装置及存储介质
公开
摘要
本申请涉及一种工件表面的红外检测方法、装置及存储介质，包括如下步骤：采集工件表面的红外图像；对所述红外图像进行分析，以获取所述工件表面的温度数据信息；将所述温度数据信息与预存的预存数据值域做比对，并将比对结果发送至终端。通过对工件表面进行红外成像处理以获得红外图像，并对红外图像进行分析以获取工件表面的温度数据信息，将获取到的温度数据信息与预存的预存数据值域做比对，从而可反映工件表面的热处理情况，以对工件表面进行检测，并及时调整，提高工件检测效率。
基本信息
专利标题 ：
工件表面的红外检测方法、装置及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114264379A
申请号 ：
CN202111659964.3
公开（公告）日 ：
2022-04-01
申请日 ：
2021-12-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
巫姿延
申请人 ：
苏州苍云智能科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市高新区狮山路金狮大厦25A室010
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202111659964.3
主分类号 ：
G01J5/48
IPC分类号 ：
G01J5/48
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J5/00
辐射高温测定法
G01J5/48
完全用视觉的方法
法律状态
2022-04-01 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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