本发明公开了一种对激励约束文件优化的反馈收敛方法和装置，应用于芯片验证测试，在验证平台完成验证环境搭建后，其中所述方法包括：对激励发生器不做约束限制，而随机产生激励；在功能测试中，记录并保存测试出错情况下的第一激励组合；根据接收到的输入信息，从所述第一激励组合中，筛选出需要设置约束限制的第二激励组合，并将所述第二激励组合归并到一激励集合中；所述输入信息由测试分析人员测试分析后，输入验证平台；根据所述激励集合修改激励发生器的约束。通过所述装置和方法，可以解决现有技术中，现有芯片功能测试中，验证可靠性不足，或者测试工作量大的问题。