一种芯片自动分选机
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种芯片自动分选机，通过上料机构用以将叠置的芯片依次向上输送；通过第一转运机构将芯片交替转送至正面检测机构，由检测机构进行芯片正面的视觉检测；检测后的芯片再由第一转运机构交替转送至翻转机构；通过翻转机构将芯片翻转一面后通过第二转运机构交替转送至反面检测机构，由检测机构进行芯片反面的视觉检测；通过第二转运机构将检测后的芯片交替转送至中转机构，通过中转机构将芯片平移后由分选下料机构根据检测结果进行分别存放。采用该芯片自动分选机，能够自动有序的对芯片产品进行检测与分选，提高效率。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片自动分选机
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114324396A
申请号 ：
CN202111666933.0
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
赵凯梁猛林海涛朱静朱先峰
申请人 ：
上海世禹精密机械有限公司
申请人地址 ：
上海市松江区九亭镇连富路1589号3幢101室
代理机构 ：
上海远同律师事务所
代理人 ：
张坚
优先权 ：
CN202111666933.0
主分类号 ：
G01N21/95
IPC分类号 ：
G01N21/95 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/95
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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