约束空谱联合亚像素定位方法及系统
实质审查的生效
摘要
本发明公开一种约束空谱联合亚像素定位方法及系统，方法包括：S1、利用下采样矩阵D建立像素丰度与亚像素丰度之间的显式关系，整合到线性解混模型中，得到亚像素丰度求解模型；S2、将亚像素丰度稀疏性约束，平滑性约束，亚像素丰度和为1约束整合到亚像素丰度求解模型，得到目标函数；S3、初始化亚像素丰度矩阵Z，辅助变量矩阵L以及稀疏性约束权重矩阵W；S4、迭代更新Z，L，M；S5、重复步骤S4，直到达到预设设定的迭代次数，停止迭代得到亚像素丰度矩阵；S6、采用赢者通吃的策略确定每个亚像素类别得到最终亚像素定位结果。本发明提高了亚像素定位的精度，取得了更加精确的结果。
基本信息
专利标题 ：
约束空谱联合亚像素定位方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114332048A
申请号 ：
CN202111668367.7
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-31
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郭宝峰徐文结迟昊宇
申请人 ：
杭州电子科技大学
申请人地址 ：
浙江省杭州市杭州经济技术开发区白杨街道2号大街1158号
代理机构 ：
浙江千克知识产权代理有限公司
代理人 ：
冷红梅
优先权 ：
CN202111668367.7
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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