交叉色散型空间外差光谱仪
公开
摘要

本发明提供一种交叉色散型空间外差光谱仪,包括激光器、汇聚透镜、准直透镜、光学滤光片组、反射镜、纵向色散光栅、分束棱镜、横向色散光栅、柱面透镜、成像透镜组以及面阵探测器。本发明提出在传统空间外差光谱仪前倾斜放置一个纵向色散光栅,在产生干涉光前将不同波长的光束纵向分开,再通过柱面透镜纵向压缩干涉图,最终在面阵探测器的不同像素行接收不同波长的独立干涉图,从而避免了传统空间外差光谱仪中谱图重叠以及相互干扰导致的信噪比低、弱信号探测不到等问题。同时某波长强光导致的探测器强度饱和不会影响其他波长的信号探测。同时所述交叉色散型空间外差光谱仪还具有无运动部件、光通量大、分辨率高、结构紧凑、测量波段范围广等优点。

基本信息
专利标题 :
交叉色散型空间外差光谱仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114295210A
申请号 :
CN202111674707.7
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李晓天初启航吉日嘎兰图陈俊糜小涛孙雨琦刘忠凯
申请人 :
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 :
吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
代理机构 :
长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
高一明
优先权 :
CN202111674707.7
主分类号 :
G01J3/28
IPC分类号 :
G01J3/28  G01J3/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法;分光光度测定法;单色器;测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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