测试方法、装置、存储介质以及处理器
实质审查的生效
摘要
本申请公开了一种测试方法、装置、存储介质以及处理器。其中,该方法包括:读取测试用例,其中,测试用例至少包括:目标控制模式对应的输入参数,以及目标控制模式下的期望区间,期望区间包括:测量期望值的第一区间与反馈期望值的第二区间;将测试用例所指示的输入参数写入至PID功能块,得到输出结结果;判断输出结果是否属于期望值区间,得到判断结果,其中,输出结果包括:测量值与反馈值;根据判断结果确定PID功能块是否通过测试。本申请解决了由于相关技术中需要手动构建测试用例对PID功能块进行测试,并通过直观感觉判断输出结果造成的测试效率低下,测试结果不准确的技术问题。
基本信息
专利标题 :
测试方法、装置、存储介质以及处理器
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114328261A
申请号 :
CN202111679938.7
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
郑志方陈耀方赵丽莉谷双平
申请人 :
浙江中控技术股份有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区六和路309号
代理机构 :
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 :
张文华
优先权 :
CN202111679938.7
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20211231
申请日 : 20211231
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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