一种基于超声波的涂层厚度测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种基于超声波的涂层厚度测量装置，包括超声波探测仪和辅助水囊；所述辅助水囊为下端开口的筒形支撑件，所述辅助水囊上端底板上开有探测头连接孔，所述辅助水囊上端底板至开口端的距离大于超声波在水传播速度与和涂层中传播速度之比；所述辅助水囊紧贴放置在待测涂层的上方，且在所述辅助水囊内充满水，所述超声波探测仪的探测头安装在所述辅助水囊上端底板的探测头连接孔内，使所述超声波探测仪的探测头与所述辅助水囊上端底板齐平。本实用新型的涂层厚度测量装置可对较薄涂层的厚度值进行准确测量。
基本信息
专利标题 ：
一种基于超声波的涂层厚度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121493288.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-06-29
授权号 ：
CN216246171U
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
庞瑞强张晓丽武子洁马城杨东星刘震甘锋赵淑荟陈辰董平顾卓敏胡晓兵白宝宝赵平平武云琳黄军平
申请人 ：
晋西工业集团有限责任公司
申请人地址 ：
山西省太原市和平北路北巷5号
代理机构 ：
北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
王松
优先权 ：
CN202121493288.2
主分类号 ：
G01B17/02
IPC分类号 ：
G01B17/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B17/00
以采用次声波、声波、超声波振动为特征的计量设备
G01B17/02
用于计量厚度
法律状态
2022-04-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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