基于嵌入式数据的非干涉相位检出装置
授权
摘要
本实用新型属于全息数据存储技术领域，公开基于嵌入式数据的非干涉相位检出装置，包括依次设置的物面、光学系统、透镜、傅里叶变换面和迭代计算处理器；物面用于上载原始相位数据；光学系统用于将原始相位数据记录在全息材料上、并进行信息读取以获得待检测相位数据；透镜用于产生待检测相位数据傅里叶变换的频谱强度分布；傅里叶变换面用于接收获得待检测相位数据傅里叶变换的频谱强度分布；迭代计算处理器用于对待检测相位数据傅里叶变换的频谱强度分布进行迭代计算，以得到检出相位数据；其能使迭代次数缩短，提升相位检出精度，且能调整嵌入式数据的比例，控制迭代次数；能保证迭代快速收敛至最优解，缩短所需迭代次数，提高数据转换速度。
基本信息
专利标题 ：
基于嵌入式数据的非干涉相位检出装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202121730888.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-07-28
授权号 ：
CN216483548U
授权日 ：
2022-05-10
发明人 ：
林枭谭小地郝建颖任宇红
申请人 ：
福建盘盛信息光学有限公司
申请人地址 ：
福建省福州市高新区科技东路3号创新园一期10号楼5层A-501室
代理机构 ：
天津盈佳知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
孙宝芸
优先权 ：
CN202121730888.6
主分类号 ：
G01J9/00
IPC分类号 ：
G01J9/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长
法律状态
2022-05-10 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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