本实用新型涉及一种双通道芯片检测设备，包括基座、下料装置和相对设置的第一检测系统和第二检测系统，下料装置位于第一检测系统和第二检测系统之间，两个检测系统同时运行，提高检测效率，通过同一个下料装置进行下料，无需单独设置下料装置，简化设备结构。两个检测系统均包括校正装置、顶升装置、运送装置、顶面检测相机、端面检测相机和底面检测相机。底面检测相机与端面检测相机的光轴线正交，芯片进行底面检测的同时进行端面检测，正交点位于下料装置与顶面检测相机之间，检测过程中，芯片先进行顶面检测，再同时进行端面检测和底面检测，最后进行下料，芯片朝一个方向运输即可完成所有的操作，无需往复运输，优化工作时序，提高工作效率。