本实用新型公开了一种适用于硅片和硅锭的电导率测试仪，属于半导体材料性能参数测试技术领域，包括基板、工作台和龙门框架，在龙门框架上设有升降气缸，在活塞杆的端部分别设有第一电磁测试探头和激光位移传感器；工作台设于基板上方，工作台的上表面中心位置处开设有凹槽，在凹槽内设有第二电磁测试探头；第一电磁测试探头位于第二电磁测试探头的正上方，第一电磁测试探头内设有主动线圈和上被动线圈，主动线圈位于上被动线圈的正下方，第二电磁测试探头内设有下被动线圈。本实用新型的电导率测试仪可自动判定待测样品为硅片或硅锭，并分别在不同的工作模式下进行电导率测试，测试功能多，同时测试精确度高，操作使用方便。