一种用于材料亚表面缺陷检测的宽谱连续波长光源
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于材料亚表面缺陷检测的宽谱连续波长光源,包括一宽谱灯源,作为照明光源的母体,其射出光线波长在中短波长光谱段;一滤波器件,位于宽谱灯源发光面近场位置,可连续/准连续地调节和选定波长;以及一透镜组,位于滤波器件的光线出射侧,将小发散角的光束整形成近似平行或者聚焦的光束。本实用新型采用一个宽谱灯源作为照明光源的母体,再配合一个连续/准连续可调的选波长的滤波器件,根据待检材料所要求的检测厚度,筛选出相匹配的波长段,待测深度和光源的穿透深度高度匹配,能够相对于单一波长激光或组合式单波长光源,可覆盖的材料穿透深度广且连续;且系统结构简单、设备可靠性高、使用和维护简单、成本低。
基本信息
专利标题 :
一种用于材料亚表面缺陷检测的宽谱连续波长光源
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122620606.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-10-29
授权号 :
CN216560304U
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
朱干军高昆谢旭凯王旭东吴洪坤
申请人 :
中电科风华信息装备股份有限公司
申请人地址 :
山西省太原市万柏林区和平南路115号
代理机构 :
合肥律通专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
赵春海
优先权 :
CN202122620606.3
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-05-17 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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