本实用新型提供了一种功耗测试装置，包括：电压输入装置、中央处理装置、采样装置、以及外设选择装置，其中，电压输入装置与被测芯片电连接，用以向被测芯片的电源管脚提供目标电压，外设选择装置与被测芯片以及中央处理装置电连接，用以根据来自中央处理装置的控制信号，而使被测芯片与至少一个外设电路电连接，采样装置设置在电压输入装置与电源管脚之间，用以在进行功耗测试的过程中，将获取的被测芯片的通路电流或通路电压发送至中央处理装置，本实用新型提供的功耗测试装置，由于具有与外设电路电连接的外设选择装置，因而可以在被测芯片挂载不同外设的情况下，对被测芯片的功耗进行准确的测试以及记录。