一种高精度自动对位ICT测试设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种高精度自动对位ICT测试设备,属于电路板的测试领域,解决了现有电路板焊点稳固性测试过程中,焊点不稳定的部分分布没有规律且不容易被观察,导致测试不便,难度较高的问题;本方案通过测试杆与焊接在电路板上的元件接触,通过弹簧a驱使测试杆与元件紧密接触,通过摇晃件与复位件的配合驱使测试杆沿四个方向进行移动,若元件焊接牢固稳定,则元件本身静止不动,图像传感器发出合格信号,若元件焊接点出现虚焊等导致焊接不牢固时,元件会发生偏移,该偏移被图像传感器感应到,图像传感器发出不合格信号,整个测试过程自动化,对焊点的周围均进行测试,测试结果的精确度高。
基本信息
专利标题 :
一种高精度自动对位ICT测试设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122761844.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-12
授权号 :
CN216209679U
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
李文庭
申请人 :
深圳市高麦电子有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区松岗街道沙浦围第二工业区37栋B2
代理机构 :
深圳宏创有为知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘佳
优先权 :
CN202122761844.6
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-05 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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