一种自动对位平台及电测试治具
授权
摘要

本实用新型涉及电子产品测试技术领域,具体涉及一种自动对位平台及电测试治具,其中自动对位平台包括:基座;承载板,用于承载待测试电子元件,所述承载板可移动的设置在所述基座上;驱动结构,用于驱动所述承载板移动;图像获取装置,设置在所述基座上,用于获取所述待测试电子元件的实时图像信息;控制器,与所述驱动结构、所述图像获取装置电连接,所述控制器内设有预设图像信息,所述控制器用于在所述实时图像信息与所述预设图像信息一致时,控制所述驱动结构停止工作。当实时图像信息与控制器内的预设图像信息一致时,说明待测电子元件已经对位完成,控制器控制驱动结构停止工作,能够进行自动对位,对位后即可进行测试,效率较高。

基本信息
专利标题 :
一种自动对位平台及电测试治具
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020485138.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-03
授权号 :
CN212180967U
授权日 :
2020-12-18
发明人 :
何启雷洪耀许达周继勇郭士军
申请人 :
枣庄睿诺电子科技有限公司
申请人地址 :
山东省枣庄市高新区复元三路3168号
代理机构 :
北京三聚阳光知识产权代理有限公司
代理人 :
康艳艳
优先权 :
CN202020485138.6
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-12-18 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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