本实用新型涉及薄材生产技术领域，具体涉及一种薄材厚度的测量装置。一种薄材厚度的测量装置，包括：基准件，周面上用于缠绕待测薄材；测距结构，与所述基准件间隔预定距离设置，用于分别测量基准件周面的任一点到测距结构的第一距离，和基准件上缠绕待测薄材后该点到测距结构的第二距离；处理器，与所述测距结构信号连接，用于接收所述测距结构发送的第一距离和第二距离，以得到待测薄材的厚度。本实用新型解决了因基准件在制造中存在公差而导致测量精度不高的问题，提供了一种薄材厚度的测量装置。