一种用于高精度光纤环温度测试的装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于高精度光纤环温度测试的装置，包括自下而上依次设置的下盖、下垫片、上垫片和上盖，以及设置在上盖顶部的Y波导光学集成器和温度传感器；其中，下盖与上盖形成模拟光纤陀螺壳体本身的热设计的结构，同时采用磁屏蔽材料实现屏蔽电磁干扰；通过在上盖与下盖之间设计上垫片和下垫片，以压紧将被测光纤环于光纤环测试装置内，不仅避免了环境振动对被测光纤环的影响，还极大低降低了被测光纤环的安装和拆卸难度；同时通过在上盖和上垫片的结构上设计了用于光纤环尾纤出纤、走线和接线的豁口和凹槽，实现光纤环尾纤的平滑走线，避免尾纤断裂的情况发生。
基本信息
专利标题 ：
一种用于高精度光纤环温度测试的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122878010.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-11-23
授权号 ：
CN216593448U
授权日 ：
2022-05-24
发明人 ：
张江源涂勇强杨功流
申请人 ：
厦门天宇丰荣科技有限公司
申请人地址 ：
福建省厦门市思明区岭兜西路608号四层04单元
代理机构 ：
天津才智专利商标代理有限公司
代理人 ：
王梦
优先权 ：
CN202122878010.3
主分类号 ：
G01C25/00
IPC分类号 ：
G01C25/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C25/00
有关本小类其他各组中的仪器或装置的制造、校准、清洁或修理
法律状态
2022-05-24 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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