三维扫描结构光扫描矩阵框架
授权
摘要

本实用新型涉及三维扫描结构技术领域,尤其涉及三维扫描结构光扫描矩阵框架。其技术方案包括:框架底板,所述框架底板上部可水平调节式连接有活动板,所述活动板上部转动连接有竖向螺柱,所述竖向螺柱螺纹旋合套接有安装板,所述安装板外周面滑动卡合连接有螺纹套,所述螺纹套端部螺纹旋合连接有螺纹连接轴,所述螺纹连接轴端部固定连接有安装条板。本申请通过由框架底板、活动板和安装板等结构搭建的框架,便于实现在三个扫描方向的调节,从而实现矩阵式扫描;本申请通过在安装板上增加角度可调节的安装条板的设计,便于实现小范围的精细调节和角度调节,无需在三个方向分别调节即可改变扫描方向,实现了扫描方向的多样性调节。

基本信息
专利标题 :
三维扫描结构光扫描矩阵框架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122923880.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-26
授权号 :
CN216717262U
授权日 :
2022-06-10
发明人 :
郑永刚
申请人 :
上海向域智能科技发展有限公司
申请人地址 :
上海市嘉定区新成路500号JT3361室
代理机构 :
北京中索知识产权代理有限公司
代理人 :
郭瑞
优先权 :
CN202122923880.8
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01B11/24  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-06-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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