一种高精度垂直位移测量设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种高精度垂直位移测量设备,涉及工程测量领域,该高精度垂直位移测量设备包括数据采集器、位移传感器及双轴测斜仪,所述位移传感器上设置有固定耳,所述固定耳通过固定螺栓固定安装在位移传感器侧壁上,所述固定耳的一端部上设置有与之固定连接的滑轨,所述双轴测斜仪滑动安装在所述滑轨内侧壁上,所述滑轨上还设置有用于将双轴测斜仪固定在滑轨上的固定组件,所述位移传感器及双轴测斜仪均通过电信号与所述数据采集器相连,本实用新型结构简单,对双轴测斜仪的安装拆卸便捷,同时本实用新型操作简单便捷,能够随时对位移传感器测量的数据进行角度修正,实现高精度垂直位移测量。
基本信息
专利标题 :
一种高精度垂直位移测量设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122996644.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-12-01
授权号 :
CN216523772U
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
杨伟发夏建民邓伟东郭锐凯陈榕陈修强江灿杰吴龙飞张强荣志平黄壮涛张进军
申请人 :
张进军
申请人地址 :
广东省广州市番禺区市广路祈福新村湖景十街10号401房
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202122996644.9
主分类号 :
G01B21/02
IPC分类号 :
G01B21/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2022-05-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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