一种测量位移的高精度磁尺
授权
摘要

本实用新型属于传感器技术领域,具体公开了一种测量位移的高精度磁尺,包括尺套和保护盖,尺套顶面设置有矩形开口,矩形开口内固定设置有磁尺本体,磁尺本体顶部设置有读磁头,且读磁头与磁尺本体间相隔有一定的距离,读磁头顶端设置有调节装置,且调节装置一侧固定设置有处理器,处理器上固定连接有显示器,调节装置底面两端均设置有滑块,尺套顶面上下端位置均设置有滑道,滑块设置在滑道内,且读磁头、调节装置、处理器和显示器均与尺套滑动连接,尺套两端均设置有夹持装置,保护盖通过两端夹持装置设置在尺套上。本实用新型可以调节读磁头移动的灵活性,设置的保护盖能够避免磁尺进入碎石或者杂物使磁尺表面产生划痕。

基本信息
专利标题 :
一种测量位移的高精度磁尺
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021495614.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-24
授权号 :
CN212674047U
授权日 :
2021-03-09
发明人 :
王鑫钢
申请人 :
埃尔格(无锡)电子科技有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新吴区菱湖大道228号天安智慧城2-805
代理机构 :
北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黄冠华
优先权 :
CN202021495614.9
主分类号 :
G01B7/02
IPC分类号 :
G01B7/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B7/00
以采用电或磁的方法为特征的计量设备
G01B7/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
2021-03-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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