一种晶体振荡测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及晶体振荡测试设备技术领域，尤其为一种晶体振荡测试装置，包括平台主体，所述平台主体的顶端设有电动滑轨，所述电动滑轨的内侧设有第一电动滑块，所述第一电动滑块的顶端设有第一安装板，所述第一安装板的基面等距开设有卡槽，所述卡槽的内壁右端设有夹持结构，所述夹持结构包括有弹簧、固定杆和伸缩杆，所述第二安装板的顶端设有升降结构，所述升降结构包括有滚珠丝杠、滚珠螺母和轴承，所述升降结构的基面等距设有连接条，通过设置插槽、第一连接块、第二连接块、升降结构和连接柱，可以通过插槽、第一连接块、第二连接块、升降结构和连接柱便于对晶体振荡器进行测试，且接触良好，增强了实用性。
基本信息
专利标题 ：
一种晶体振荡测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202123092248.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-12-10
授权号 ：
CN216670142U
授权日 ：
2022-06-03
发明人 ：
艾育林
申请人 ：
江西万年芯微电子有限公司
申请人地址 ：
江西省上饶市万年县高新技术产业区丰收工业园（建设路以北、建元路以南）
代理机构 ：
南昌洪达专利事务所
代理人 ：
黄凌飞
优先权 ：
CN202123092248.X
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/02 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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